Приставка зеркального отражения ПО200
Ожидается

Приставка зеркального отражения ПО200

(0)

Цена за 1 шт

- + шт Купить в один клик Сравнить
Контроль характеристик кремниевых пластин диаметром до 200 мм в ручном режиме с помощью универсального ИК фурье-спектрометра ФСМ.
Распродажа:  Y
Распродажа!
Приставка зеркального отражения ПО200

Приставка зеркального отражения для спектрометра ФСМ в интернет-магазине EQUM.RU

Контроль характеристик кремниевых пластин диаметром до 200 мм в ручном режиме с помощью универсального ИК фурье-спектрометра ФСМ.

Особенности и преимущества:

  • Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

  • Для измерения в режиме отражения используется приставка зеркального отражения ПО200 с углом падения луча 10º.

  • Пластины крепятся в приставках с помощью специальных держателей, представляющих собой съёмные кольца, в которых пластину, не повреждая, фиксируют дюралевые зажимы. Держатель выбирается в соответствии с размерами исследуемых образцов.

  • Выбор контрольных точек на образце производится вручную путем изменения положения подвижной части приставки с закрепленной на ней пластиной. Таким образом, пластину можно вращать вокруг оси, а также перемещать плоско-параллельно. Для контроля этого перемещения обе приставки снабжены шкалами, отградуированными соответственно в градусах и в мм.

  • Получение и обработка данных осуществляется с помощью специализированной программы SemiSpec.
  • Угол падения луча 10º

  • Габаритные размеры (Ш х Г х В) 237 Х 256 х 203 мм


Характеристики:

  № 

  Характеристика

Образец

Пределы измерения

Стандартное отклонение,

не более

Междунар. стандарт

1

  Концентрация междуузельного кислорода, см-3

пластина

0,4–2,0 мм

5x1015–2x1018

5x1015

SEMI MF1188

2

  Концентрация углерода замещения, см-3

пластина

0,4–2,0 мм

1016–5x1017

1016

SEMI MF1391

3

 Радиальная неоднородность распределения кислорода в кремниевых пластинах  

-

-

-

SEMI MF951

4

  Толщина эпитаксиальных слоев кремниевых структур типа n-n+ и p-p+, мкм


0,5–10,0

10–200

0,1

1%

SEMI MF95

5

  Толщина эпитаксиальных слоев кремния в структурах КНС, мкм


0,1–10,0

1%


6

  Концентрация фосфора в слоях ФСС и бора/фосфора в слоях БФСС, % вес


1–10

0,2


Приставка зеркального отражения для спектрометра в наличии на складе в Петербурге
Имя Файл Размер Скачать
  • Комментарии
Загрузка комментариев...
  • Поделиться:

С этим товаром рекомендуем

Комплект держателей пластин для приставок ...
Ожидается

Уважаемый посетитель!

Чтобы просмотреть цены и добавить товар в корзину, клиенту необходимо зарегистрироваться. Автоматическая регистрация временно приостановлена по техническим причинам. Для регистрации направляйте реквизиты по основному адресу электронной почты, указанному вверху страницы.